Electron Beam Ion Sources And Traps And Their Applications door K. Prelec
Nu kopen!

Boek

Electron Beam Ion Sources And Traps And Their Applications

8th International Symposium Ebis/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 « 

Score:
 
 
 
 
 
 (3/0)

Aantal recensies:
0 
Aantal keer getipt:
0 
Aantal keer gelezen:
0 
Auteur(s):
  
Categorie:
 
ISBN
9780735400115

 
Deel via E-mail 
Deel op Twitter 



 
Informatie
 
 
Recensies
 
 
Prikbord
 
 
 
Vergelijkbaar
 
 
 
Lezers
 
 

Welkom op Boeklezers.nl

Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »

Meedoen

Recensies van Electron Beam Ion Sources And Traps And Their Applications door K. Prelec

Electron Beam Ion Sources And Traps And Their Applications is 0 keer gerecenseerd. De gemiddelde score is 3.0. Het boek is 0 keer gelezen.
Anoniem

Er zijn nog geen recensies voor dit boek.