Boek
Defect Localization Capabilities of a Global Detection Scheme
Spatial Pattern Recognition Using Full-Field Vibration Test Data in Plates «
Score:
Aantal recensies:
Aantal keer getipt:
Aantal keer gelezen:
Auteur(s):
Categorie:
ISBN
9781234877279
Welkom op Boeklezers.nl
Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »
Recensies van Defect Localization Capabilities of a Global Detection Scheme door Atef F. Saleeb Nasa Glenn Research
Er zijn nog geen recensies voor dit boek.
