Boek
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy
Proceedings of the First U.S.Army Natick Research, Development and Engineering Center Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, Held in Natick, Massachusetts, June 8-10, 1993 «
Score:
Aantal recensies:
Aantal keer getipt:
Aantal keer gelezen:
Auteur(s):
Categorie:
ISBN
9780306448904
Welkom op Boeklezers.nl
Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »
Recensies van Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy door Simon A. Cohen & M.T. Bray
Er zijn nog geen recensies voor dit boek.
