Boek

Structural Characterization Of Hard Materials By Transmission Electron Microscopy (Tem)

Diamond-Silicon Carbide Composites And Yttria-Stabilized Zirconia. «

Score:

(3/0)

Aantal recensies:

0

Aantal keer getipt:

0

Aantal keer gelezen:

0

Auteur(s):

Joon Seok Park

Categorie:

ISBN

9781243555779

Welkom op Boeklezers.nl

Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »

Er zijn nog geen berichten geplaatst op het prikbord van Structural Characterization Of Hard Materials By Transmission Electron Microscopy (Tem).